Home
»
»
G08000 - SEMI G80 - 自動試験装置の総合的デジタルタイミング精度を分析するための試験方法 Revision:SEMI G80-0200 (Reapproved 0612) - Inactive 一般用は3インチ，100 mm，125 mm，150 mmのウェーハを扱う基本ガイドラインである。
G08000 - SEMI G80 - 自動試験装置の総合的デジタルタイミング精度を分析するための試験方法 Revision:SEMI G80-0200 (Reapproved 0612) - Inactive 一般用は3インチ，100 mm，125 mm，150 mmのウェーハを扱う基本ガイドラインである。
$115.50
Description
一般用は3インチ，100 mm，125 mm，150 mmのウェーハを扱う基本ガイドラインである。
Appropriate information is summarized in § 5
This Standard does not require
orgおよびwww
SEMI M6-1108 (technical revision)
G08000 - SEMI G80 - 自動試験装置の総合的デジタルタイミング精度を分析するための試験方法 Revision:SEMI G80-0200 (Reapproved 0612) - Inactive 一般用は3インチ，100 mm，125 mm，150 mmのウェーハを扱う基本ガイドラインである。NOTICE: This translation is a REFERENCE COPY ONLY. If differences should exist between the English version and a translation in any other language, the English version is the official and authoritative version. SEMI SEMI CurrentInactiveInactiveSEMI ICATEAC ATEATEATE ATE Referenced SEMI Standards (purchase separately) SEMI G79 Specification for Overall Digital Timing Accuracy
Shipping Notes
- Free Standard Shipping on $100+ Orders to the USA.
- Except Preorder products are shipped in 48 hours.
- Delivery to the USA:
- Standard Shipping : 3-10 business days
- If time is of the essence, please consider selecting expedited delivery for faster service.
 - Inactive 一般用は3インチ，100 mm，125 mm，150 mmのウェーハを扱う基本ガイドラインである。){kind=link}